正置金相检测显微镜是金相显微镜的分支，在观察时成像为正像，这对倒置金相显微镜使用者的观察与辨别带来了极大的方便，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。并且适合用于观察大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。