原子力显微镜-使用攻略大全[博越仪器]
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 企业的Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所创造发明的,其目地是为了更好地使导电介质还可以选用扫描仪探针显微镜(SPM)开展观察。原子力显微镜(AFM)与扫描仪隧道施工显微镜(STM)最大的不同取决于并不是利用电子器件隧穿,只是利用原子中间的范德华力(Van Der Waals Force)功效来展现试品的表面特点。假定2个原子中,一个是在悬壁(cantilever)的探针顶尖,另一个是在样版的表面,他们中间的相互作用力会随间距的更改而转变 ,其相互作用力与间距的关联如“图1” 所显示,当原子与原子很贴近时,彼此之间电子云排斥力的功效超过原子核与电子云中间的诱惑力功效,因此 全部协力主要表现为排斥力的功效,相反若两原子分离有一定间距时,其电子云排斥力的功效低于彼此之间原子核与电子云中间的诱惑力功效,故全部协力主要表现为吸引力的功效。若以动能的视角看来,这类原子与原子中间的间距与相互之间动能的尺寸也可从Lennard –Jones 的公式计算中到另一种证实。
2021-04-16 15:42:31