场发射扫描电子显微镜是电子显微镜的一种,扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。下面我们就来进一步了解,场发射扫描电子显微镜的原理及应用范围。
场发射扫描电子显微镜是电子显微镜的一种,扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。应用范围有生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。
场发射扫描电子显微镜在操作时注意事项,首先,无磁性或弱磁性,不易潮解且无挥发性的固态样品,样品尺寸小于长80mm*宽60mm*高60mm,当样品尺寸过大需切割取样,粉末样品最好由客户选择对样品无污染的包装方式。其次,取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置,取下样品后选择是否镀金处理,及时检测样成分品避免外来污染影响分析结果。
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