大多数金矿床都有特定的地球化学特征。典型的金探测的伴随元素包括As,Cu,Pb,Zn,Sb,Bi,Ag和W因此就需要对这些元素进行分析来判断是否拥有价值及后期提取工艺的选择。而这就需要使用到x射线荧光金矿石分析仪进行专业的分析。
金矿石地质样品中AU元素直接低水平含量,在其部分光谱中,来自其他元素(例如,As,Zn,W和Se)的干扰可以产生假阳性Au测定。但是通过x射线荧光金矿石分析仪直接测量Au元素可以在特定情况下实现,例如高含量的(> 5ppm)石英脉环境(相对无干扰)或精制高浓度的Au产品。因此一些现场采矿实验室也开始使用x射线荧光金矿石分析仪代替传统火试验技术。
这也与其检测精准度有关,这就不得不提及其内部的硬件:光路系统。光路系统是产生x射线荧光并且对光谱进行分析的设备,而现在市场上的光路系统一般分为进口和国产,而因为国内矿石分析仪研发的时间起步晚,在内部基础硬件(光栅,传感器)上仍然有一些差距。在采购时企业可以结合自身情况进行选择。像金属于贵金属成本高,对于材料检测精准度要求严格,那采购进口手持矿石分析仪无疑是更有利的,更有利于金矿石的开发使用。
企业可进一步咨询x射线荧光金矿石分析仪检测相关问题,工程师将会结合相关材料检测专业知识,为您在线解答。