正置金相检测显微镜是金相显微镜的分支,在观察时成像为正像,这对倒置金相显微镜使用者的观察与辨别带来了极大的方便,除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,由于符合人的日常习惯,因此更广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。并且适合用于观察大于3微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
其次,在对需要被观察材料进行制样时,需要进行双面打磨,并且正置的物镜向下,试样放在下面,能够在制样上节省更多的时间,效率更高。正是因为其正置金相显微镜特性被很多企业高校采购,如高校的金相学课程也会采用金相显微镜使用,这类学校对于应用于教学的显微镜要求性能更加高。
像来采购45°金相显微镜的某高校的王老师,因为是应用于教育领域,因此对性能方面要求严格,而因为自己是金相学老师对于金相显微镜非常熟悉,在自己实地进行考察时,都会自己动手检测下效果。检测的结果让对方非常满意表示“性能很好,不输于那些进口的显微镜”。在向领导汇报后,当天傍晚就与我们签订了合约。
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