金属的表面缺陷,可以通过观察半导体晶体中的位错、体内层错和氧化层错、晶格点阵无序等结构来判断清晰的大致情况·,然后根据观察金相结构 显微镜数据进行对应的工艺调整,如在实际应用探讨铁素体系球墨铸铁之奥氏体结构,及均质化与温度对奥氏体的影响,并比较球墨铸铁与钢之奥氏体化反应的差异及其原因,下面就来为大家更进一步的介绍下。
在比如进行处理后之球墨铸铁,其奥氏体优先成核位置为球墨铁素体界面,而在球墨周围之奥氏体成长,主要是依靠碳原子的扩散进行,而未均质化球墨铸铁的优先成核、成长位置,包括球墨铁素体界面与共晶胞晶界等,而在这类金相组织观察时,因避免观察时显微镜结构及观察出现色差,导致周围出现模糊现象,导致观察金相结构 显微镜观察数据无法精准获取。
这是因为显微镜结构在观察时出现色差,会影响数码设备对结晶体结构的抓拍识别,因为色差现象的产生是由于光轴上的物点发出的多色光经单透镜成像时,各色光对应的不重合的像点而造成的,在产生色差现象后,在观察成像效果上,观察区域周围会产生模糊化,从而影响大家的观察效果,因此45°观察金相结构 显微镜就采用除色差技术,从根本上解决此类问题,大家在使用时也更放心。
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