金相组织观察显微镜是工业领域使用比较频繁的检测设备,其可以用于观察半导体晶体中的位错、体内层错和氧化层错、晶格点阵无序等结构缺陷。这些特性使其在金属材料和半导体材料领域有着广泛的用途,而通过这些的观察可以来判断工艺及质量是否达到标准值,
像使用金相显微镜经均质化处理后之球墨铸铁,其奥氏体优先成核位置为球墨铁素体界面,而在球墨周围之奥氏体成长,主要是依靠碳原子的扩散进行,而未均质化球墨铸铁的优先成核、成长位置,包括球墨铁素体界面与共晶胞晶界等,而在这类金相组织观察时,为能够更好清晰观察的金相组织,普遍会使用无限远光学结构金相显微镜。
光学结构系统其负责将观察物体结果不断折射放大至观察者眼中,分为有限远系统和无限远系统,其中采用无限远光学系统的金相显微镜观察较清晰,其利用物体的平行光束进入成像透镜,由成像透镜形成中间像。根据平行可无法放大延长原理,在观察清晰度和成像效果上更加优质,甚至在多数学家之间一直存在着“无限远校正光学系统是理想的显微镜光学系统”这一说法。并且此光学系统采用同轴垂直照明系统,很好的消除了杂散光,从而大大提高成像的对比度(衬度)和清晰度。搭配测量软件,满足厚度的测量、金相分析软件可对材料情况进行有效的分析。
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